Diffraction des Rayons X _ Poudre

Panalytical X’Pert3 powder

La plateforme de diffraction nouvelle génération, polyvalente

X’Pert³ Powder est le nouveau diffractomètre de PANalytical basé sur une plateforme entièrement renouvelée.
Une nouvelle électronique embarquée de contrôle, une conformité avec les dernières normes les plus strictes en terme de sécurité de rayons X et mécanique, des progrès dans l’éco-convivialité et la fiabilité, X’Pert³ est paré pour l’avenir.
Le système offre une solution abordable pour l’identification et la quantification de phase de haute qualité, les cadences élevées, les analyses de contraintes résiduelles, l’incidence rasante, la réflectométrie, la diffusion aux petits angles, les analyses de la fonction de distribution de paires et la diffraction non ambiante.
L’analyse par diffraction des rayons X satisfait de nombreux besoins analytiques des scientifiques spécialisés dans les matériaux. Dans les poudres, les phases chimiques sont identifiées qualitativement et quantitativement. La diffraction des rayons X haute résolution révèle des paramètres tels que la composition, l’épaisseur, la rugosité et la densité des couches minces semi-conductrices. L’analyse par la diffusion de rayons X aux petits angles et la fonction de distribution de paires (PDF) aide à analyser les propriétés structurelles des nanomatériaux. Les contraintes et l’orientation privilégiée peuvent être déterminées dans un large éventail d’objets solides et de composants d’ingénierie.